English
Kazakh
Português (Brasil)
Русский
简体中文
Mikroèlektronika
ISSN 0544-1269 (Print)
Мәзір     Мұрағат
  • Бастапқы
  • Журнал туралы
    • Редакция тобы
    • Редакция саясаты
    • Авторларға арналған ережелер
    • Журнал туралы
  • Шығарылымдар
    • Іздеу
    • Ағымдағы шығарылым
    • Ретракцияланған мақалалар
    • Мұрағат
  • Байланыс
  • Жазылу
  • Барлық журналдар
Пайдаланушы
Құпия сөзді ұмыттыңыз ба? Тіркеу
Хабарламалар
  • Қарау
  • Тіркелу
Іздеу
Парақтау
  • шығарылымдар
  • авторлар
  • атаулары бойынша
  • бөлімдер бойынша
  • басқа журналдар
  • Категориялар
Ақпарат
  • Оқырмандар үшін
  • Авторларға
  • Кітапханалар үшін
Жазылу Жазылымды тексеру үшін жүйеге кіріңіз
Кілтсөздер Förster effect bipolar transistor diagnostics etching gas temperature ionization kinetics magnetron sputtering mechanism memristor modeling molecular beam epitaxy plasma polymerization powerful LDMOS quantum dot reduced electric field strength resistive switching silicon silicon-on-insulator technology specific power
Ағымдағы шығарылым

Том 54, № 4 (2025)

×
Пайдаланушы
Құпия сөзді ұмыттыңыз ба? Тіркеу
Хабарламалар
  • Қарау
  • Тіркелу
Іздеу
Парақтау
  • шығарылымдар
  • авторлар
  • атаулары бойынша
  • бөлімдер бойынша
  • басқа журналдар
  • Категориялар
Ақпарат
  • Оқырмандар үшін
  • Авторларға
  • Кітапханалар үшін
Жазылу Жазылымды тексеру үшін жүйеге кіріңіз
Кілтсөздер Förster effect bipolar transistor diagnostics etching gas temperature ionization kinetics magnetron sputtering mechanism memristor modeling molecular beam epitaxy plasma polymerization powerful LDMOS quantum dot reduced electric field strength resistive switching silicon silicon-on-insulator technology specific power
Ағымдағы шығарылым

Том 54, № 4 (2025)

Бастапқы > Іздеу > Журнал бөлімдері > ЛИТОГРАФИЯ

ЛИТОГРАФИЯ

Шығарылым Атауы Файл
Том 54, № 4 (2025) Perspectives of electron-beam and ion-beam lithography development in Russia PDF
(Rus)
Zaitsev S., Irzhak D., Il’in A., Knyazev M., Roshchupkin D., Grachev V., Kurbatov V., Malkov G.
Том 54, № 1 (2025) Investigation of double patterning method with the usage of antispacer PDF
(Rus)
Tikhonova E., Gornev E.
Том 53, № 5 (2024) New concept for the development of high-performance X-ray lithography PDF
(Rus)
Chkhalo N.
Том 52, № 5 (2023) Protective Freely Hanging Films for Projection Lithography Installations in the Extreme UV Range PDF
(Rus)
Zuev S., Lopatin A., Luchin V., Salashchenko N., Tsybin N., Chkhalo N.
Том 52, № 2 (2023) Cross Sections of Scattering Processes in Electron-Beam Lithography PDF
(Rus)
Rogozhin A., Sidorov F.
Нәтижелер 5 - 1/5
 

 

Developed by ECO-VECTOR

 

Powered by EVESYST

TOP