English
Kazakh
Português (Brasil)
Русский
简体中文
Эко-вектор
Микроэлектроника
ISSN 0544-1269 (Print)
Меню     Архив
  • Главная
  • О журнале
    • Редакция
    • Редакционная политика
    • Правила для авторов
    • О журнале
  • Выпуски
    • Поиск
    • Текущий выпуск
    • Ретрагированные статьи
    • Архив
  • Контакты
  • Подписка
  • Все журналы
Пользователь
Забыли пароль? Регистрация
Уведомления
  • Посмотреть
  • Подписаться
Поиск
Листать
  • выпуски
  • По автору
  • по заглавиям
  • по разделам
  • другие журналы
  • Категории
Информация
  • Для читателей
  • Авторам
  • Для библиотек
Подписка Войти в систему, чтобы проверить подписку
Ключевые слова атомы фтора биполярный транзистор диссоциация импульсные нейронные сети интенсивность излучения ионизация квантовая точка кинетика кремний магнетронное распыление мемристор механизм моделирование плазма полимеризация приведенная напряженность электрического поля резистивное переключение температура газа травление удельная мощность эффект Ферстера
Текущий выпуск Обложка

Том 54, № 4 (2025)

×
Пользователь
Забыли пароль? Регистрация
Уведомления
  • Посмотреть
  • Подписаться
Поиск
Листать
  • выпуски
  • По автору
  • по заглавиям
  • по разделам
  • другие журналы
  • Категории
Информация
  • Для читателей
  • Авторам
  • Для библиотек
Подписка Войти в систему, чтобы проверить подписку
Ключевые слова атомы фтора биполярный транзистор диссоциация импульсные нейронные сети интенсивность излучения ионизация квантовая точка кинетика кремний магнетронное распыление мемристор механизм моделирование плазма полимеризация приведенная напряженность электрического поля резистивное переключение температура газа травление удельная мощность эффект Ферстера
Текущий выпуск Обложка

Том 54, № 4 (2025)

Главная > Поиск > Информация об авторе

Информация об авторе

Мяконьких, А. В.

Выпуск Раздел Название Файл
Том 53, № 1 (2024) ТЕХНОЛОГИИ Применение спектральной эллипсометрии для диэлектрических, металлических и полупроводниковых пленок в технологии микроэлектроники
Том 53, № 1 (2024) ТЕХНОЛОГИИ Параметры и состав плазмы в смеси CF4 + H2 + Ar: эффект соотношения CF4/H2
Том 52, № 4 (2023) ТЕХНОЛОГИИ Механизмы перераспределения углеродных загрязнений в пленках, сформированных методом атомно-слоевого осаждения
Том 53, № 6 (2024) ДИАГНОСТИКА Состав газовой фазы и кинетика атомов фтора в плазме SF6
 

 

Developed by ECO-VECTOR

 

Powered by EVESYST

TOP